日本日置IM3570阻抗分析儀主要特點(diǎn)和應(yīng)用
發(fā)布日期：2012-09-04 點(diǎn)擊：3779
日本日置IM3570阻抗分析儀主要特點(diǎn)和應(yīng)用
日本日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時(shí)間間隔測量.
日本日置IM3570阻抗分析儀一臺(tái)儀器就可以實(shí)現(xiàn)不同測量條件的高速檢測要求
日本日置發(fā)售的IM3570阻抗分析儀的測量頻率4Hz~5MHz，測試電平5mV~5V的LCR電橋與阻抗分析儀合二為一的儀器。因?yàn)閷?yīng)不同測量條件都能高速連續(xù)測量，所以在需要使用眾多儀器檢查的生產(chǎn)線上，僅IM3570一臺(tái)便可實(shí)現(xiàn)。
壓電元件的共振特性的測量
通過頻率掃頻測量共振頻率和當(dāng)時(shí)的阻抗值，利用比較功能判別是否合格。另外，通過連續(xù)測量的功能，1KHz的C值測量（LCR電橋）和頻率掃頻測量都能在這一臺(tái)儀器上實(shí)現(xiàn)。
功能高分子電容等的C-D值和低ESR測量
能夠連續(xù)測量功能性高分子電容的C-D值以及低ESR（100kHz）
與之前的產(chǎn)品（3522-50,3532-50）相比，低阻抗測量時(shí)的精度和反復(fù)精度都提升了1位。
電感（線圈、變壓器）的DCR和L-Q測量
連續(xù)測量L-Q（1kHz，CC1mA）和DCR，能在同一畫面上顯示數(shù)值。
通過掃頻測量，能夠用圖表來顯示頻率特性和電平特性。
日本日置IM3570阻抗分析儀的介紹
推薦用于生產(chǎn)線中的特點(diǎn)和功能
按照不同測量條件進(jìn)行連續(xù)測量
根據(jù)測量對象，1臺(tái)儀器可連續(xù)測量必須的多種測量條件。例如：可進(jìn)行DCR（直流電阻）和L-Q的連續(xù)測量、以及C-D（120Hz）和ESR（100kHz）的連續(xù)測量。
通過高速測量加快檢查速度
縮短測量時(shí)間、實(shí)現(xiàn)zui快2ms（1kHz）、1ms（100kHz）。和日置以往產(chǎn)品（代表值5ms）相比，大幅提高了速度，從而有利于增加檢查數(shù)量。
和以往產(chǎn)品相比，反復(fù)精度提高了1位
和以往產(chǎn)品相比，將低阻抗測量時(shí)、高頻測量時(shí)的反復(fù)精度提高了1位。在提高了測量值的可信度的同時(shí)，可縮小設(shè)置生產(chǎn)線的判斷標(biāo)準(zhǔn)的幅度。
具備接觸檢查功能
利用4端子測量（僅低阻抗高精度模式時(shí)）、2端子測量的接觸檢查功能，可防止測量電極為接觸被測物的情況下測量。
測量線可延長至4m
利用4端子的結(jié)構(gòu)減小測量線的影響，以測量線長0/1/2/4m來保證精度。便于自動(dòng)機(jī)的接線。
可在內(nèi)部發(fā)生DC偏壓
僅主機(jī)可外加并測量zui大2.5V的DC偏壓?？砂残臏y量鉭電容等有極性的電容。
DC~5MHz可使用的4端子探頭
4端子探頭L2000（選件）采用有利于特性阻抗50Ω和提高測量精度的4端子構(gòu)造，是于IM3570的探頭。
推薦用于研發(fā)的特點(diǎn)和功能
頻率掃頻測量和電平掃頻測量
可對頻率特性（4Hz~5MHz）和電平特性進(jìn)行掃描和測量。輕松把握特性。
可廣范圍的改變測量條件
測量頻率4Hz~5MHz（5位分辨率）
測量電平5mVrms~5Vrms（1mVrms分辨率）
觸摸屏設(shè)計(jì)，輕松操作
延續(xù)以往產(chǎn)品中操作簡單的觸摸屏設(shè)計(jì)。采用了彩色液晶面板，能夠清晰的顯示數(shù)據(jù)，還具備優(yōu)良的操作性，從而提高作業(yè)人員的工作效率。
U盤
可將測量結(jié)果和設(shè)定保存至前端面板連接的U盤中。
PC控制和PC軟件
標(biāo)配RS-232C、GP-IB、USB、LAN。
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